1586A Super-DAQ는 가장 정확하고 유연한 온도 데이터 수집 시스템입니다. 이 시스템은 최대 40개 입력 채널의 온도, dc 전압, dc 전류 및 저항을 스캔하고 기록하며 초당 10채널의 빠른 스캔 속도를 제공합니다. Super-DAQ는 공장에서 다중 채널 데이터 로거로 사용하거나 연구소에서 벤치탑 센서 교정용 정밀 기준 온도계로 사용하도록 구성할 수 있습니다.
1586A는 열 맵핑, 온도 검증, 프로세스 센서 교정, 열처리 전기로 테스트, 프로세스 모니터링, 품질 관리 테스트 등과 같은 분야에 가장 적합합니다. 이러한 분야는 제약, 생명공학, 식품 가공, 항공 우주 및 자동차 등의 다양한 산업에서 찾을 수 있습니다.
●열전대 , PRTs, 서미스터, dc 전압, dc 전류 및 저항 측정
●동급 최강의 측정 온도 정확도
- PRT ±0.005°C (외부 DAQ-STAQ Multiplexer 사용)
- 열전대: ± 0.5 °C (대용량 모듈 및 내부 CJC)
- 서미스터: ± 0.002 °C
● 입력 채널: 40개 이상의 절연된 범용 입력
● 유연한 구성: 내부 대용량 모둘과 DAQ-STAQ Multiplexer
● 선택 가능 스캔 속도 : 초당 10채널 이상
● 4가지 모드 작동 : 스캔, 모니터, 측정, 디지털 멀티미터 (DMM)
● 실시간 컬러 트렌드 : 최대 4개 채널의 차트 동시 작성
● dc 전압, dc 전류 및 저항에 6 1/2 디지트 디스플레이 분해능 제공
● 전류 리버설이 열전 효과를 최소화하여 PRT/RTD 측정 정확도 향상
●자동 센서 교정: 자동화된 교정 루틴을 위해 dry-well, 마이크로 바스와 같은 Fluke Calibration 온도 소스 자동 교정
● 데이타 저장: 최대 20MB의 데이타와 셋업 파일을 내부 메모리 또는 USB 드라이브 저장. PC/무선 랜으로 데이타 전송 및 엑셀로 데이타 확인 가능
● 데이타 보안: 셋팅값과 데스트 트레이서빌리티(traceability)를 보장하기 위해 관리자와 사용자 프로필 파일 생성
● Mx + B 스케일링과 채널 오프셋 제로 기능
● 경보: 각 채널에 상한 범위 또는 하한 범위가 초과되었을 때 이를 사용자에게 알리는 2개의 독립적인 경보 제공
1586A Super-DAQ 정밀 온도 스캐너
The 1586A Super-DAQ 는 프로세스 제어 및 인터랙티브 시스템 분석, 품질 기준 준수 또는 R&D 시설의 고장 진단을 담당하는 기술자, 엔지니어, 품질 관리 담당자의 데이타 분석을 위한 정밀 온도와 전기 측정 타임스탬프를 수집합니다. 측정 데이타와 통계 자료는 모든 활성화 채널의 표 형식으로 확인할 수 있으며 그래프 기능으로 최대 4개 채널을 PC에서 데이타를 분석전에 쉽고 빠르게 테스트 셋업과 결과를 동시에 계획할 수 있습니다.
DAQ-STAQ Multiplexer로 구성하면 Super-DAQ는 PRTS, RTD, 서미스터, 또는 열전대 교정을 위한 최고의 벤치탑 레퍼런스 온도계 리드아웃의 정확성을 가지게 됩니다. 그리고 Super-DAQ이 Fluke Calibration 드라이웰 또는 Bath에 연결되어 있고 자동 센서 테스트 루틴이 실행되고 있을때 실험실 효율성을 증가시킬 수 있습니다.
1586은 열 매핑, 온도 확인, 공정 센서 보정 등과 같은 어플리케이션에 이상적이며 이러한 어플리케이션은 제약, 생명 공학, 식품 가공, 우주 항공 및 자동차 등 다양한 산업 분야에서 확인할 수 있습니다.
동급의 다른 제품과 차별화되도록 Super-DAQ를 설정할 수 있는 6개의 주요 기능이 있습니다:
1. 최고의 온도 측정 정확도
1586A Super-DAQ는 다음과 같은 동급 최고의 정확도로 PRTs, 열전대, 그리고 서미스터 측정값을 판독합니다 :
● PRTs ± 0.005 °C (외부 DAQ-STAQ Multiplexer 사용)
● 열전대: ± 0.5 °C (대용량 모듈과 내부 CJC 사용)
● 서미스터: ± 0.002 °C
2. 공장 또는 벤치탑 용도에 적합한 유연한 구성
온도 검증 등의 공장 용도로 사용할 경우 Super-DAQ는 내부 고용량 모듈로 구성됩니다. 열전대 또는 RTD를 입력 단자에 연결하는 작업은 특히 한 작업에 동일한 유형의 센서를 여러개 사용하고 다른 작업에 사용되는 다른 유형의 센서로 전환하는 경우 시간이 많이 소요될 수 있습니다. 내부 고용량 모듈을 사용하면 여러 입력 모듈을 사전에 구성할 수 있으므로 사용자의 테스트 요구 사항에 따라 한 모듈을 다른 모듈로 교체하기만 하면 되며, 저장된 테스트 설정을 호출하여 훨씬 더 빠르게 모듈을 전환할 수 있습니다. 또한 원하는 경우, 항상 단일 고용량 모듈에서 열전대, RTD, 전압, 저항 또는 전류와 같은 여러 가지 다양한 입력 유형을 동시에 측정할 수 있습니다.
온도 검증 등의 공장 용도로 사용할 경우 Super-DAQ는 내부 고용량 모듈로 구성됩니다. 열전대 또는 RTD를 입력 단자에 연결하는 작업은 특히 한 작업에 동일한 유형의 센서를 여러 개 사용하고 다른 작업에 사용되는 다른 유형의 센서로 전환하는 경우 시간이 많이 소요될 수 있습니다. 내부 고용량 모듈을 사용하면 여러 입력 모듈을 사전에 구성할 수 있으므로 사용자의 테스트 요구 사항에 따라 한 모듈을 다른 모듈로 교체하기만 하면 되며, 저장된 테스트 설정을 호출하여 훨씬 더 빠르게 모듈을 전환할 수 있습니다. 또한 원하는 경우, 항상 단일 고용량 모듈에서 열전대, RTD, 전압, 저항 또는 전류와 같은 여러 가지 다양한 입력 유형을 동시에 측정할 수 있습니다.
3. 다양한 작동 모드
Super-DAQ는 4가지 모드로 작동이 가능하며 단일 기기에서 스캔, 모니터링, 측정을 수행하거나 디지털 멀티미터로 사용할 수 있습니다. 사용자가 정의한 테스트에 따라 채널을 순차적으로 스캔하며 용도에 따라 빠름, 중간 또는 느림 중에서 스캔 속도를 선택하십시오. 스캔 도중 스캔을 중단하지 않고 단일 채널을 모니터링할 수 있고 테스트 파일을 사전 구성하지 않고도 데이터를 측정해 단일 채널에 기록할 수 있습니다. DMM 모드에서는 익숙한 벤치탑 디지털 멀티미터와 같은 전면 패널 채널을 사용하여 dc 전압, dc 전류 또는 2-와이어 및 4-와이어 저항을 빠르게 측정할 수 있습니다.
4. 실시간 컬러 그래프 작성
대부분의 데이터 수집 시스템에서는 한 채널의 데이터만 볼 수 있습니다. 그러나 Super-DAQ를 사용하면 이제 실시간으로 모든 채널의 데이터를 표 형식으로 보거나 최대 4개 채널의 차트를 동시에 컬러로 작성할 수 있습니다. 관심 있는 데이터를 확대 또는 축소해서 보거나 추세를 모니터링할 수 있고 기록 모드를 사용하면 PC와 고가의 소프트웨어 없이도 스캔 파일 내에서 수집된 데이터를 스크롤할 수 있습니다.
5. 데이터 이동성 및 보안
Super-DAQ에는 타임스탬프가 포함된 75,000개 이상의 판독값을 저장할 수 있는 20MB의 내장 메모리가 있습니다. LAN 인터페이스 연결을 사용하여 USB 플래시 드라이브를 이용하거나 네트워크를 통해 데이터 및 설정 파일을 손쉽게 PC로 옮겨 분석할 수 있습니다. Super-DAQ에는 두 가지 레벨의 데이터 보안도 포함되어 있어 권한 없는 사용자가 테스트 데이터 또는 설정 파일을 변조하거나 위조하는 것을 방지할 수 있습니다. 이 보안 기능은 정부 기관의 규제를 받으며 데이터 추적 가능성이 요구되는 산업에 특히 중요합니다.
6. 자동화된 센서 교정
자동 테스트 기능을 사용하여 PC와 소프트웨어 없이 센서 교정을 자동으로 수행할 수 있습니다. RS-232 인터페이스를 통해 Super-DAQ를 Fluke Calibration drywell 또는 액체 항온조와 연결하면 열원을 제어하고 교정을 자동으로 실행할 수 있습니다. 간편하게 설정점 온도 수와 값을 프로그래밍하고, 스캔 순서(선형, 대체, 위/아래)를 선택하고, 기준 채널을 할당하고, 필요한 안정성 대역을 설정할 수 있습니다. Super-DAQ는 기준 채널을 통해 열원의 안정성을 모니터링하고, 안정화된 데이터를 수집한 후 다음 설정점 온도로 진행합니다. 테스트를 구성하고 시작하면 자동으로 테스트가 수행되므로 다른 작업을 처리할 수 있습니다.
일반 사양 | |
메인 전압 | 100 V 설정: 90 V ~ 110 V |
주파수 | 47 Hz ~ 440 Hz |
전력 소비량 | 36 VA 피크 (평균 24 W) |
온도 환경 | 작동 온도: 0 °C ~ 50 °C |
상대 습도(비응축) | 작동 습도: 0 °C ~ 30 °C <80 %; |
고도 | 작동 고도: 2,000 m |
진동 및 충격 | MIL-PRF-28800F Class 3 준수 |
채널 용량 | 총 아날로그 채널: 45 |
입력 보호 | 50 V(모든 기능, 단자 및 범위) |
연산 채널 | 채널 개수: 20 |
Triggers | 인터벌, 외부(트리거 입력), 경보, 원격(버스), 수동, 자동 테스트 |
메모리 | 스캔 데이터 RAM: 타임스탬프가 포함된 75,000개의 판독값 |
USB 호스트 포트 | 연결 타입: Type A |
USB 장치 포트 | 연결 타입: Type B |
LAN | 기능: 데이타 전송 및 제어 |
RS-232 | 커넥터: D-sub 9 pin (DE-9) |
Dimensions | 높이: 150 mm |
적합성 | CE, CSA, IEC 61010 3rd ed. |
측정 사양 | |
정확도 사양은 일반적으로 1시간 예열 후 환경 온도가 18 °C ~ 28 °C인 중간 샘플 속도(별다른 언급이 없는 한)에서 유효합니다. 정확도 사양의 신뢰도 수준은 1년 이내에 95 % 입니다. | |
스캔 속도 | 빠름: 초당 최대 10개 채널(채널 당 0.1초) 중간: 초당 1개 채널(채널 당 1초) |
표시 분해능 | 6 1/2 디지트 (온도 판독의 표시 분해능을 찾기 위해 아래표 참조) |
|
PRT/RTD | |
온도 범위 | −200 °C ~ 1200 °C (센서에 따라) |
저항 범위 | 0 Ω ~ 4 kΩ |
오프셋 보상 | 0 Ω ~ 400 Ω, 4-와이어: 자동 전류 전환 |
소스 전류 전환 간격 (0 Ω ~ 400 Ω 범위) | 빠른 샘플 속도: 2 ms |
최대 리드 저항 (4-와이어 Ω) | 400 Ω 에서 4 kΩ 범위의 리드 당 2.5 % |
PRT/RTD 저항 정확도 | ||||
정확도는 % 측정 또는 옴으로 지정됩니다. 기본 정확도는 4-와이어 PRT/RTD로 3-와이어 PRT/RTD가 채널 1을 사용하는 경우 오프셋 내부 저항 물일치 및 전압에 대한 정확도 사양을 X20을 통해 X01 채널을 사용하는 경우 0.05 Ω을 추가 기능을 사용합니다. 환경 온도가 지정된 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다 | ||||
범위 | 샘플 속도 | DAQ-STAQ 모듈과 채널 1 | 대용량 모듈 | T.C./ °C 외부 18 °C ~ 28 °C |
0 Ω ~ 400 Ω | 느림 | 0.002 % 또는 0.0008 Ω | 0.003 % 또는 0.003 Ω | 0.0001 % 또는 0.0008 Ω |
중간 | 0.002 % ~ 0.002 Ω | 0.003 % ~ 0.003 Ω | 0.0001 % ~ 0.0008 Ω | |
빠름 | 0.002 % 또는 0.005 Ω | 0.003 % 또는 0.006 Ω | 0.0001 % 또는 0.0008 Ω | |
400 Ω ~ 4 kΩ | 느림 | 0.004 % 또는 0.06 Ω | 0.006 % 또는 0.06 Ω | 0.0001 % 또는 0.008 Ω |
중간 | 0.004 % 또는 0.1 Ω | 0.006 % 또는 0.1 Ω | 0.0001 % 또는 0.008 Ω | |
빠름 | 0.004 % 또는 0.18 Ω | 0.006 % 또는 0.18 Ω | 0.0001 % 또는 0.008 Ω |
PRT/RTD 온도 정확도 | ||||
정확도는 4-와이어 100 Ω 공칭 PRT / RTD입니다. 3-와이어 PRT/RTD가 채널 1을 사용하는 경우 오프셋 내부 저항 물일치 및 전압에 대한 정확도 사양을 0.039 °C 추가합니다. X20을 통해 X01 채널을 사용하는 경우 0.15 °C을 추가 사용합니다. 환경 온도가 지정된 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다. 직선 보간은 테이블에있는 포인트 사이에 사용할 수 있습니다. 사양은 센서의 정확성을 포함하지 않으며 온도 측정의 실제 범위는 센서와 특성에 따라 달라집니다. | ||||
샘플 속도 | 온도 | DAQ-STAQ 모듈과 채널 1 | 대용량 모듈 | T.C./ °C 외부 18 °C ~ 28 °C |
느림 | −200 °C | 0.002 °C | 0.008 °C | 0.002 °C |
0 °C | 0.005 °C | 0.008 °C | 0.003 °C | |
300 °C | 0.012 °C | 0.018 °C | 0.006 °C | |
600 °C | 0.02 °C | 0.03 °C | 0.01 °C | |
중간 | −200 °C | 0.005 °C | 0.008 °C | 0.002 °C |
0 °C | 0.005 °C | 0.008 °C | 0.003 °C | |
300 °C | 0.012 °C | 0.018 °C | 0.006 °C | |
600 °C | 0.02 °C | 0.03 °C | 0.01 °C | |
빠름 | −200 °C | 0.013 °C | 0.015 °C | 0.002 °C |
0 °C | 0.013 °C | 0.015 °C | 0.003 °C | |
300 °C | 0.014 °C | 0.018 °C | 0.006 °C | |
600 °C | 0.02 °C | 0.03 °C | 0.01 °C |
PRT/RTD 측정 특성 | |||
| 온도 표시 분해능 |
| |
범위 | 느림 / 중간 샘플 속도 | 빠른 샘플 속도 | 소스 전류 |
0 Ω ~ 400Ω | 0.001 °C | 0.01 °C | ±1 mA |
400 Ω ~ 4 kΩ | 0.001 °C | 0.01 °C | 0.1 mA |
열전대 | ||||
온도 범위 | −270 °C ~ 2315 °C (센서에 따라 다름) | |||
전압 범위 | −15 mV ~ 100 mV | |||
열점대 전압 정확도 | ||||
정확도는 ± (|측정 % | + μV)로 지정 됩니다. 기본 정확도 사양은 중간 또는 느린 샘플 속도 기준입니다. 빠른 샘플 속도 사용 시 정확도 사양에 테이블 값을 추가하고 환경 온도가 지정된 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다. | ||||
범위 | 채널 1 정확도 | Ch. x01 – x20 | 빠른 샘플 속도 | T.C./ °C 외부 |
−15 mV ~ 100 mV | 0.004 % + 4 μV | 2 μV 추가 | 1 μV 추가 | 0.0005 % + 0.0005 mV |
열전대 기준 접점 정확도 | ||
모듈 | CJC 정확도 | T.C./ °C 외부 |
DAQ-STAQ 모듈 | 0.25 °C | 0.02 °C |
대용량 모듈 | 0.6 °C | 0.05 °C |
열전대 온도 정확도 | |||||
정확도 사양은 중간 혹은 느린 샘플 속도로 지정됩니다. 빠른 샘플 속도 사용 시 정확도 25 %가 증가하며 환경 온도가 지정된 범위를 벗어나면 지정된 범위를 벗어난 1 °C 마다 12 % 정확도 사양이 증가합니다. 고정 / 외부 CJC와 정확도는 기준 접점 온도의 정확성을 포함하지 않습니다. 직선 보간은 테이블에 있는 포인트 사이에 사용할 수 있습니다. 사양은 센서의 정확성을 포함하지 않으며 온도 측정의 실제 범위는 센서에 따라 달라집니다 | |||||
타입 | 온도 | 정확도 | |||
고정된 / 외부 CJC | 내부 CJC | ||||
채널 1 | Ch. x01 – x20 | DAQ-STAQ 모듈 | 대용량 | ||
K | −200 °C | 0.28 °C | 0.41 °C | 0.76 °C | 1.60 °C |
T | −200 °C | 0.27 °C | 0.40 °C | 0.76 °C | 1.60 °C |
R | 0 °C | 0.76 °C | 1.13 °C | 1.16 °C | 1.28 °C |
S | 0 °C | 0.74 °C | 1.11 °C | 1.14 °C | 1.26 °C |
J | −200 °C | 0.20 °C | 0.29 °C | 0.65 °C | 1.41 °C |
N | −200 °C | 0.42 °C | 0.62 °C | 0.90 °C | 1.69 °C |
E | −200 °C | 0.17 °C | 0.25 °C | 0.64 °C | 1.42 °C |
B | 300 °C | 1.32 °C | 1.97 °C | 1.97 °C | 1.97 °C |
C | 600 °C | 0.23 °C | 0.33 °C | 0.37 °C | 0.54 °C |
D | 600 °C | 0.22 °C | 0.32 °C | 0.34 °C | 0.44 °C |
G | 600 °C | 0.24 °C | 0.36 °C | 0.36 °C | 0.36 °C |
L | −200 °C | 0.13 °C | 0.19 °C | 0.45 °C | 0.99 °C |
M | 0 °C | 0.11 °C | 0.16 °C | 0.30 °C | 0.64 °C |
U | −200 °C | 0.25 °C | 0.37 °C | 0.71 °C | 1.48 °C |
W | 600 °C | 0.24 °C | 0.36 °C | 0.36 °C | 0.36 °C |
열전대 측정 특성 | ||
범위 | 온도 표시 분해능 | |
느림 / 중간 | 빠른 | |
−270 °C ~ 2315 °C | 0.01 °C | 0.1 °C |
DC 전압 | ||||
최대 입력 | 50 V 모든 범위 | |||
공통 모드 제거 | 50 Hz 에 140 dB 또는 60 Hz (LOW 리드의 1 kΩ 불균형) 최대 피크 ±50 V | |||
일반 모드 제거 | 전원 주파수 ±0.1 %의 55 dB, 최대 피크 범위 ±120 % | |||
A/D 선형성 | 측정 2 ppm + 범위의 1 ppm | |||
전류를 통한 입력 | 25 °C에 30 pA | |||
DC 전압 정확도 | ||||
정확도는 (측정 % + 범위 %)로 지정됩니다. 기본 정확도 사양은 채널 1에 중간 또는 느린 샘플 속도입니다. 채널 x20를 통한 x01 혹은 빠른 샘플 속도를 사용할 경우 정확도 사양에 테이블의 주어진 값을 추가합니다. 환경 온도가 지정되 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다. | ||||
범위 | 채널 1 정확도 | Ch. x01 – x20 | 빠른 샘플 속도 | T.C./ °C 외부 |
±100 mV | 0.0037 % + 0.0035 % | 2 μ 추가 | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.0005 % + 0.0005 % |
±1 V | 0.0025 % + 0.0007 % | 2 μ 추가 | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.0005 % + 0.0001 % |
±10 V | 0.0024 % + 0.0005 % | − | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.0005 % + 0.0001 % |
±50 V | 0.0038 % + 0.0012 % | − | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.0005 % + 0.0001 % |
DC 전압 입력 특성 | ||||
| 분해능 | 입력 임피던스 | ||
범위 | 느림 / 중간 | 빠름 | ||
±100 mV | 0.1 μ | 1 μ | 10 GΩ [1] | |
±1 V | 1 μ | 10 μ | 10 GΩ [1] | |
±10 V | 10 μ | 100 μ | 10 GΩ [1] | |
±50 V | 100 μ | 1 mV | 10 MΩ ±1 % | |
[1] - ±12 V를 벗어난 입력은 고정되며 클랩프 전류는 최대 3 mA입니다. |
DC 전류 | |||
입력 보호 | 0.15 A 재설정 PTC | ||
DC 전류 정확도 | |||
정확도는 (측정 % + 범위 %)로 지정됩니다. 기본 정확도 사양은 중간 또는 느린 샘플 속도입니다. 빠른 샘플 속도를 사용할 경우 정확도 사양에 테이블의 주어진 값을 추가합니다. 환경 온도가 지정되 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다. | |||
범위 | 정확도 | 빠른 샘플 속도 | T.C./ °C 외부 |
±100 μA | 0.015 % + 0.0035 % | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.002 % + 0.001 % |
±1 mA | 0.015 % + 0.0011 % | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.002 % + 0.001 % |
±10 mA | 0.015 % + 0.0035 % | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.002 % + 0.001 % |
±100 mA | 0.015 % + 0.0035 % | 범위의 0.0008 % 추가 | 0.002 % + 0.001 % |
DC 전류 입력 특성 | |||
| 분해능 |
| |
범위 | 느림 / 중간 | 빠름 | 부담 전압 |
±100 μA | 0.1 nA | 1 nA | <1 mV |
±1 mA | 1 nA | 10 nA | <1 mV |
±10 mA | 10 nA | 100 nA | <1 mV |
±100 mA | 100 nA | 1 μA | <1 mV |
저항 | |||
최대 리드 저항 (4-와이어 ohms) | 100 Ω 과 1 kΩ 범위는 리드당 10 Ω. 모든 다른 범위는 리드 당 1 kΩ | ||
저항 정확도 | |||
정확도는 (측정 % + 범위 %)로 지정됩니다. 기본 정확도 사양은 4-와이어 정확에 중간 또는 느린 샘플 속도입니다. 2-와이어 저항이 채널 1 사용할 경우 빠른 샘플 속도를 사용할 경우 0.02 Ω 내부 저항을 추가하고 채널 x20을 통해 x01을 사용할 경우 1.5 Ω을 외부 리드 와이어 저항에 추가합니다. 빠른 샘플 속도를 사용 시 정확도 사양에 테이블의 주어진 값을 추가하고 환경 온도가 지정된 범위를 벗어나면 온도 편차에 온도 계수를 곱하여 정확도 사양을 추가 할 수 있습니다. | |||
범위 | 정확도 | 빠른 샘플 속도 | 1T.C./ °C 외부 |
100Ω | 0.004 % + 0.0035 % | 범위의 0.001 % 추가 | 0.0001 % + 0.0005 % |
1 kΩ | 0.003 % + 0.001 % | 범위의 0.001 % 추가 | 0.0001 % + 0.0001 % |
10 kΩ | 0.004 % + 0.001 % | 범위의 0.001 % 추가 | 0.0001 % + 0.0001 % |
100 kΩ | 0.004 % + 0.001 % | 범위의 0.001 % 추가 | 0.0001 % + 0.0001 % |
1 MΩ | 0.006 % + 0.001 % | 판독값 0.002 % 에 범위의 0.0008 % 추가 | 0.0005 % + 0.0002 % |
10 MΩ | 0.015 % + 0.001 % | 판독값 0.002 % 에 범위의 0.0008 % 추가 | 0.001 % + 0.0004 % |
100 MΩ | 0.8 % + 0.01 % | 범위의 0.001 % 추가 | 0.05 % + 0.002 % |
저항 입력 특성 | |||
범위 | 분해능 | 빠름 | 소스 전류 |
100Ω | 0.1 mΩ | 1 mΩ | 1 mA (4 V) |
1 kΩ | 1 mΩ | 10 mΩ | 1 mA (4 V) |
10 kΩ | 10 mΩ | 100 mΩ | 100 μA (6 V) |
100 kΩ | 100 mΩ | 1Ω | 100 μA (12 V) |
1 MΩ | 1Ω | 10Ω | 10 μA (12 V) |
10 MΩ | 10Ω | 100Ω | 1 μA (12 V) |
100 MΩ | 100Ω | 1 kΩ | 0.1 μA (12 V) |
디지털 I/O | |
절대 전압 범위 | –4 V ~ 30 V |
최대 로직 하이 입력 | 2.0 V |
최대 로직 로우 입력 | 0.7 V |
출력 타입 | 개방 드레인 액티브 로우 |
출력 로직 로우 (<1 mA) | 0 V ~ 0.7 V |
최대 싱크 전류 | 50 mA |
출력 저항 | 47Ω |
Totalizer | |
절대 전압 범위 | –4 V ~ 30 V |
최소 로직 하이 | 2.0 V |
최대 로직 로우 | 0.7 V |
최소 펄스 폭 | 50 μs |
최대 주파수 | 10 kHz |
디바운스 타임 | 1.7 ms |
최대 카운트 | 1048575 (20 bits) |
트리거 | |
절대 전압 범위 | –4 V ~ 30 V |
최소 로직 하이 | 2.0 V |
최대 로직 로우 | 0.7 V |
최소 펄스 폭 | 50 μs |
최대 지연 시간 | 100 ms |
출력 경보 | |
절대 전압 범위 | –4 V ~ 30 V |
출력 타입 | 개방 드레인 액티브 로우 |
출력 로직 로우 (<1 mA) | 0 V ~ 0.7 V |
최대 싱크 전류 | 50 mA |
출력 저항 | 47Ω |
1586-2588 DAQ-STAQ 입력 모듈 사양 | |
최대 입력 | 50 V |
오프셋 전압 | <2 μV |
3-와이어 내부 저항 불일치 | <50 mΩ |
기본 CJC 정확도 | 0.25 °C |
1586-2586 대용량 입력 모듈 사양 | |
최대 입력 | 50 V |
오프셋 전압 | <2 μV |
3-와이어 내부 전항 불일치 | <50 mΩ |
기본 CJC 정확도 | 0.6 °C |
Model Name |
Description |
1586A/1DS |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 DAQ-STAQ Multiplexer |
1586A/1DS/C |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 DAQ-STAQ Multiplexer, Accredited Calibration |
1586A/2DS |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 2 DAQ-STAQ Multiplexers |
1586A/2DS/C |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 2 DAQ-STAQ Multiplexers, Accredited Calibration |
1586A/DS-HC |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 High-Capacity Module, 1 DAQ-STAQ Multiplexer |
1586A/DSHC/C |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 High-Capacity Module, 1 DAQ-STAQ Multiplexer, Accredited Calibration
|
1586A/1HC |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 High-Capacity Module |
1586A/1HC/C |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 1 HIgh-Capacity Module, Accredited Calibration |
1586A/2HC |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 2 High-Capacity Modules |
1586A/2HC/C |
Super-DAQ Precision Temperature Scanner, 2 High-Capacity Modules, Accredited Calibration |
Fluke DAQ 6.0 Application Software for Fluke data acquisition products. |
|
TQSOFT-IQ/OQ |
TQSoft Pharma Process Analysis and Validation Software |
TQAERO |
TQAero Furnace Validation Software |
VAL-BNDR-TQS |
Validation Reference Binder |
Accessory |
Description |
High-Capacity Module without Relay Card |
|
1586-2586/C |
High-Capacity Module without Relay Card, Accredited Calibration |
High-Capacity Module with Relay Card |
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1586-2586-KIT/C |
High-Capacity Module with Relay Card, Accredited Calibration |
DAQ-STAQ Multiplexer without Adapter Card |
|
1586-2588/C |
DAQ-STAQ Multiplexer without Adapter Card, Accredited Calibration |
DAQ-STAQ Mutiplexer, Adapter Card, Interface Cable |
|
1586-2588-KIT/C |
DAQ-STAQ Multiplexer, Adapter Card, Interface Cable, Accredited Calibration |
DAQ-STAQ Multiplexer Interface Cable |
|
1586A-101 |
10-ohm Current Shunt Resistors, set of 10 |
Y1586S |
Rack Mount Kit, Single (half rack) |
Y1586D |
Rack Mount Kit, Dual (full rack) |
Carrying Case for 1586A Super-DAQ |
|
Super-DAQ/DAQ-STAQ Carrying Case (mainframe and external module) |
품명 | 상품페이지 참고 |
---|---|
모델명 | 상품페이지 참고 |
법에 의한 인증·허가 등을 받았음을 확인할 수 있는 경우 그에 대한 사항 | 상품페이지 참고 |
제조국 또는 원산지 | 상품페이지 참고 |
제조자 | 상품페이지 참고 |
A/S 책임자와 전화번호 또는 소비자상담 관련 전화번호 | 상품페이지 참고 |
2680A-APSW v6.0
1586-2586
1586-2586-KIT
1586-2588-KIT
1586-2588-CBL
1586-CASE
1586/DS-CASE
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